SN74BCT8374ADW
![품질 [#varpname#] 공장](/images/load_icon.gif){kind=icon}
제조 업체:
텍사스 인스트루먼트
설명:
IC 스캔 테스트 장치 W/FF 24-SOIC
분류:
논리
사양
분류:
집적 회로(IC) 논리 특수 논리
비트의 숫자:
8
제품 상태:
액티브
장착형:
표면 마운트
패키지:
튜브
시리즈:
74BCT
로직 타입:
D형 에지 트리거 플립플롭을 갖춘 스캔 테스트 장치
공급자의 장치 패키지:
24-SOIC
Mfr:
텍사스 인스트루먼트
작동 온도:
0°C ~ 70°C
공급 전압:
4.5V ~ 5.5V
패키지 / 케이스:
24-SOIC(0.295", 폭 7.50mm)
기본 제품 번호:
74BCT8374
소개
스캔 테스트 장치는 D형 엣지 트리거 플립 플랩 IC 24-SOIC
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